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透過型電子顕微鏡用イオンミリング装置 TEM ミル
アクティブ除振台・微振動制御装置
特許機器株式会社
電子顕微鏡向けトータルソリューション
走査型電子顕微鏡用イオンミリング装置 SEM ミル
3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam
カールツァイス株式会社
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走査透過電子顕微鏡【TENSOR】
株式会社東陽テクニカ
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