水銀プローバ CV/IV測定システム CVmapシリーズ 雄山株式会社
この製品について
■特徴
Si、化合物、SOI、SiC、バルクウェハといった様々なタイプのウェハ特性を測定できます。ユーザが最大49箇所の測定サイトを指定し、C-V、I-V特性、TDDB、Vbd、Qbdの酸化膜破壊評価、Dit、ドーピング濃度、酸化膜厚、Low-k、High-k等のマッピング測定が可能なトータルシステムです。■主な測定項目
・ドーピングプロファイル (キャリア濃度) ・比誘電率 (Low-K, High-K など) ・フラットバンド電圧 ・界面トラップ、固定電荷密度 ・リーク電流 ・破壊電圧測定 (Vbd, TDDB) ・チャージによる破壊試験 (Qbd) ・ピンホール密度縁膜膜厚、絶縁膜容量 ・強誘電体特性 ・ジェネレーション・ライフタイム絶縁膜の抵抗 ・Pseudo-MOSトランジスタ測定 (B-type) ・BOX界面Dit、モビリティ測定 (B-type)■CVmapシリーズのラインナップ
・CVmap92A：マッピング測定対応、標準タイプ ・CVmap92B：SOIウエハ対応タイプ ・CVmap3092A、B：12インチ対応タイプ ・CV92M：マニュアル測定タイプ-
シリーズ
水銀プローバ CV/IV測定システム CVmapシリーズ
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取扱企業
雄山株式会社
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カテゴリ
プローバー
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水銀プローバ CV/IV測定システム CVmapシリーズ 品番6件
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| まとめて問合せ・見積 | 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | タイプ |
|---|---|---|---|---|
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CVmap3092A |
要見積もり | 12インチ対応タイプ | |
CVmap3092B |
要見積もり | 12インチ対応タイプ | ||
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CVmap3093AC |
要見積もり | - | |
CVmap92A |
要見積もり | マッピング測定対応、標準タイプ | ||
CVmap92B |
要見積もり | SOIウエハ対応タイプ | ||
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CV92M |
要見積もり | マニュアル測定タイプ |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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