狭線幅光源の周波数ノイズ・及び線形の測定・解析などに ハイフィネス線幅アナライザー LWA-1k Series トプティカフォトニクス株式会社
この製品について
■特徴
・周波数偏差の時間トレース測定 ・周波数ノイズ密集スペクトラム ・強度ノイズスペクトラム ・レーザー線形スペクトラム レーザーの周波数及び強度ノイズの測定、解析及びコントロールを目的とし、多用途に使用できる堅固でコンパクトな機器です。精密なレーザーの特性をリアルタイムで測定するための理想的な装置です。 最高感度は、干渉計の動作原理とハイエンドな光学的及び電気的なコンポーネントとの結びつきにより達成されます。周波数偏向の経時変化の計算をベースとし、周波数ノイズ密集スペクトラム、350Hzに至るまでの本質的 (Lorentzian) な線幅、及び有効 (光学) 線幅の評価による光学的な線形、及び相対強度ノイズ (RIN) の測定を可能にします。 更なる解析によって、多くの追加情報を入手可能です。LWAの原理となる公正な測定は、光学的な遅延ライン技術より優れ、理由としては、非自明な評価に依存する後者の方法は、技術固有の情報不足に起因するためです。LWAは、PIDコントロールを利用した、レーザーの線幅低減も可能にします。■非常に狭い線幅に至るまでの測定を可能にする装置
・線幅狭窄化、PIDコントロール ・周波数分別がベース (干渉計)-
シリーズ
狭線幅光源の周波数ノイズ・及び線形の測定・解析などに ハイフィネス線幅アナライザー LWA-1k Series
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取扱企業
トプティカフォトニクス株式会社
狭線幅光源の周波数ノイズ・及び線形の測定・解析などに ハイフィネス線幅アナライザー LWA-1k Series 品番4件
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| まとめて問合せ・見積 | 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 波長レンジ (nm) | ノイズフロア (Hz/√Hz) | 周波数ノイズバンド幅 | 固有線幅レンジ | 実効線幅レンジ | 周波数ノイズ密度 | 光学&ローレンツ線幅 |
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LWA-1k 780 |
要見積もり | 760-1,064 | 25-500 | 10Hz-10MHz | < 8kHz | < 10kHz-20MHz | 50Hz-10MHz | 350Hz-20MHz | |
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LWA-1k 1550 |
要見積もり | 1,530-1,565 | 5-100 | 10Hz-10MHz | < 350Hz | < 1kHz-20MHz | 50Hz-10MHz | 350Hz-20MHz | |
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LWA-100k NIR |
要見積もり | 1,064-1,625 | 25-1,000 | 25Hz-10MHz | < 2kHz | < 10kHz-20MHz | 25Hz-10MHz | 2kHz-20MHz | |
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LWA-100k VIS |
要見積もり | - | - | - | - | - | 25Hz-10MHz | 2kHz-20MHz |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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