3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam-カールツァイス株式会社

相関クライオ顕微鏡ワークフロー | 3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam
カールツァイス株式会社


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型番説明

極低温条件下のTEMラメラの作製や大量イメージングのためのソリューションで、生理的環境に近い状態のイメージングが可能です。光学顕微鏡やレーザー顕微鏡およびCrossbeamと相関が可能。同時に、多用途なFIB-SEMの柔軟性のメリットもあります。


型番フィルター

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FIB

ガス

ステージ

チャンバーサイズとポート

フェムト秒レーザー スポットサイズ

フェムト秒レーザー パルス持続時間

フェムト秒レーザー 光学系

フェムト秒レーザー 波長 (λ)

フェムト秒レーザー 種別

フェムト秒レーザー 走査範囲サイズ

分析オプション

利点

帯電制御

引き込み式 ToF-SIMS 分光器 検出限界

引き込み式 ToF-SIMS 分光器 横方向の分解能

引き込み式 ToF-SIMS 分光器 深さ方向の分解能

引き込み式 ToF-SIMS 分光器 質量分解能

引き込み式 ToF-SIMS 分光器 質量電荷比

解像度

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  • 型番

    相関クライオ顕微鏡ワークフロー




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3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam 相関クライオ顕微鏡ワークフローの性能表

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のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。

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会社概要

ZEISSは光学とオプトエレクトロニクス分野をリードする国際的テクノロジー企業です。 ZEISSグループは半導体製造装置、工業用測定機、顕微鏡、医療機器、眼鏡レンズ、カメラおよび映写機用レンズ、双眼鏡、プラネタリウムなど...

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