X線単結晶方位測定装置 s-Laue (パルステック工業株式会社) のカタログ情報
X線単結晶方位測定装置 s-Laue
製品個別カタログ
カタログ紹介
省スペースで取り扱いが簡単なラウエカメラです。
単結晶材料のX線回折(ラウエ斑点)画像を高速に取得できます。
空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となった卓上型です。
X線を垂直下向きに入射するため試料の設置が簡単です。
顕微鏡を用いて精密な位置合わせが可能です。
小型・軽量で省スペース化を実現しました。
単結晶材料のX線回折(ラウエ斑点)画像を高速に取得できます。
空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となった卓上型です。
X線を垂直下向きに入射するため試料の設置が簡単です。
顕微鏡を用いて精密な位置合わせが可能です。
小型・軽量で省スペース化を実現しました。
カタログについて
- カタログ名
- X線単結晶方位測定装置 s-Laue
- 取り扱い企業
- パルステック工業株式会社
- 会社区分
- メーカー
- 該当カテゴリ
- X線回折装置 結晶構造解析
- カタログタイプ
- 製品個別カタログ
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