回折計で最高クラスのナノ構造解析 高分解能SAXSおよびXRD用真空チャンバー EVACモジュール-EVACモジュール
回折計で最高クラスのナノ構造解析 高分解能SAXSおよびXRD用真空チャンバー EVACモジュール-株式会社アントンパール・ジャパン

回折計で最高クラスのナノ構造解析 高分解能SAXSおよびXRD用真空チャンバー EVACモジュール 株式会社アントンパール・ジャパン

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この製品について

■特長

・完全に真空化されたビームパスによる卓越したS/N比 ・スタンドアローンSAXS専用機の品質で測定できるSAXS光学系 ・反射法または透過法の高分解能XRD測定に適しています。 ・2θ範囲の制約を受けずに測定

■回折計で最高クラスのナノ構造解析

・EVACモジュールとXRDynamic 500の組み合わせにより、ラインコリメーションSAXS専用機の品質を初めて回折計にもたらしました。 ・EVACモジュールの散乱のないスリットを含む最適化されたSAXS光学系と併用すると、qmin =0.05nm⁻¹の分解能を達成でき、XRDプラットフォームでのSAXS測定の新しい基準を設定します。EVACモジュールとXRDynamic 500により、等方性試料、コロイド分散体、生体試料のSAXS測定が非常に簡単になりました。

■寄生空気散乱のない非常に優れたデータ品質

EVACモジュールとXRDynamic 500の真空光学ユニットによって実現された、光源から検出器までの完全に真空化されたビームパスでは、全ての空気散乱が除去されるため可能な限り最高のS/N比が実現します。これにより、すべての測定においてX線強度が向上し、Cr KαやCo Kαなどのエネルギーの低いX線を扱う場合には特に有効です。

■SAXS、WAXS、XRD、PDF解析のための制限のない測定

・SAXS、XRD、PDFのいずれの測定においても、EVACモジュールは測定方法に制限を設けません。反射や透過での測定、粉体サンプルキャリアやキャピラリーなど、あらゆることが可能です。 ・EVACモジュールがセカンダリゴニオメーターアームと一緒に回転するという独自の機能により、測定角度に制限がなく、0°から162.5°2θまでのデータを一度にシームレスに測定できることです。

■対応装置

全自動多目的X線回折装置:XRDynamic 500

  • シリーズ

    回折計で最高クラスのナノ構造解析 高分解能SAXSおよびXRD用真空チャンバー EVACモジュール



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回折計で最高クラスのナノ構造解析 高分解能SAXSおよびXRD用真空チャンバー EVACモジュール 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定範囲 qmin サンプルホルダー
回折計で最高クラスのナノ構造解析 高分解能SAXSおよびXRD用真空チャンバー EVACモジュール-品番-EVACモジュール

EVACモジュール

要見積もり -10° ­̶ 162.5° 2theta 0.05 ・標準寸法のすべてのXRDサンプルホルダー
・SWAXS液体用サンプルホルダー
・SWAXS固体用サンプルホルダー
・SWAXS使い捨てキャピラリー用サンプルホルダー
・他

のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。

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