イオンミリングの前段研磨に最適超精密ディンプリンググラインダー Model 200-Model 200

イオンミリングの前段研磨に最適超精密ディンプリンググラインダー Model 200 ムサシノ電子株式会社

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この製品について

透過型電子顕微鏡  (TEM)  用の薄片試料を作製するための機械研磨装置です。試料作製の最終段階としてイオンミリング装置を使用する場合に最適です。

■特徴・イオンミリングの前段研磨に最適
・グラインディングレートを自動でコントロール
・抜群な最終仕上がり研磨精度  (±1μm)  
・マイクロプロセッサー内蔵により研磨作業を自動コントロール
・40倍顕微鏡にて試料位置決めおよび試料作成中の観察が可能
・研磨工具が豊富なため、難解な材料の研磨が可能
・幅広いディンプルおよび平坦な研磨が可能
・液晶パネルにて加工中の試料厚みをリアルタイムで表示
・希望最終試料厚み到達後の自動停止機構内蔵
・あらゆる材料の研磨を可能にし、また大きな試料  (＜5mm)  にも対応すべく研磨ツール  (ホイール)  を豊富に取り揃えました。
・グラインディング率自動コントロール機能内蔵により研磨する材料の硬さに応じて自動的にグラインディングピンを下降させますので、試料にダメージを与えません。
・タイマーでの研磨も可能です。この場合設定時間に応じて研磨ホイールの回転速度およびグラインディングピンの下降速度も自動的に調整します。
・研磨スタート時、研磨終了時とも試料に損傷を与えぬよう自動的に研磨ホイールを250μm上昇させて研磨が終了します。
・ディンプリンググラインダーで試料をある程度まで薄くすることにより、イオンミリングを行う時間を短縮することが可能です。

ディンプリング研磨、超音波ディスクカット等の従来技術を用いた試料作製や、濃縮イオンビームによるダメージの無い試料生成によって、電子顕微鏡観察に最適な環境を構築するE.A. Fischione Instruments, Inc.社の装置です。またプラズマクリーナーによって試料およびホルダーから、試料の組成や性質を変えることなく、有機物質のみを除去することで、TEM、SEM電子顕微鏡観察に最適な環境を実現します。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
イオンミリングの前段研磨に最適超精密ディンプリンググラインダー Model 200

取扱企業
ムサシノ電子株式会社

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イオンミリングの前段研磨に最適超精密ディンプリンググラインダー Model 200 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	本体寸法	本体重量	研削制御	ワークステージ	操作盤	電源
	Model 200	要見積もり	W208mm × D165mm × H343mm	8.2kg	自動研削速度制御カウンターウェイトによる研削力制御砥石および試料保持の独立した制御砥石回転速度制御	磁石による試料固定高精度θステージ	キーパッド入力 (液晶画面)	110/220 V AC, 50/60 Hz, 375 W