高いけがき精度を実現精密手動スクライバー SC-150 ムサシノ電子株式会社

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この製品について

けがき回数による、けがき線のズレが発生しません。試料に手で直接触れることなく、けがき作業を行うことが可能です。バネで一定の圧力をかけることで、人力に頼らないけがき作業を実現しました。

断面観察用試料が精密、かつ容易に作成可能です。開発実験および品質管理用途として最適な装置です。高いけがき精度を実現したスクライバー装置です。最大Φ150mmまでの試料をけがくことが可能です。

■特徴・高いけがき精度を実現した精密手動スクライバーです。
・最大φ150mmまでの試料を設置することが可能です。
・試料に直接触れたり押さえたりする必要がありません。
・人力に頼らない、バネの力で一定の圧力でのけがきを実現しました。
・簡単な操作で断面観察用試料が容易に作成可能です。
・省スペースでの開発実験および品質管理用に最適です。
・標準仕様では25倍単眼鏡での観察が可能です。  (38倍単眼鏡またはCCDカメラをオプション品として設置可能です。)  

■用途・半導体ウェハー
・サファイア
・SiC
・ガラス
・セラミックス…など

■CCDカメラ仕様  (オプション)  拡大鏡の代わりにCCDカメラ仕様もご用意できます。倍率5倍～60倍での観察が可能です。

■LED仕様  (オプション)  スクライブラインに合わせてLEDライトを搭載することで、けがき時のサンプル確認が容易になります。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
高いけがき精度を実現精密手動スクライバー SC-150

取扱企業
ムサシノ電子株式会社

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高いけがき精度を実現精密手動スクライバー SC-150 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	本体寸法	本体重量	ワークサイズ寸法	適用試料	ワーク保持	ステージ移動機構	角度目盛り	けがき針	ダイヤモンド刃	ローラ刃	けがき長	けがき荷重	けがき角度	拡大鏡	CCDカメラ
	SC-150	要見積もり	W325mm × D299mm × H292mm	15kg	φ155mm × t4	半導体ウェハー、サファイア、SiC、ガラス、セラミックス等	真空チャック式	マイクロメーター X方向=160mm	θ=360° 微調整機構	ポイント式ダイヤモンド針	OS3P (Si,GaAs,Inp等) 3PR (サファイア、石英ガラス等)	超硬ローラ刃	Y方向=170mm	10g~400g (標準)	50°~70°	25倍単眼鏡 (オプション38倍単眼鏡)	5倍~60倍 (オプション)