アドバンテストの走査型電子顕微鏡4製品中の注目ランキング
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E3310は、1Xnmノードのプロセス開発および22nm世代以降の量産デバイス向けに開発されたウエハ用MVM-SEM*です。デュアル・アーム真空ロボットを採用した高速搬...
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「E3640」は、フォトマスクの微細パターン寸法を高精度で測定でき、さらに、3D計測・3D観察が可能で従来のCD-SEMの枠組みを超えたMVM-SEM*です。マスク用SEM...
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「E3650」は、独自の電子ビーム走査技術を用いて、フォトマスクの微細パターン寸法をより高い精度と安定性で計測します。フォトマスク用SEM市場で広く支持さ...
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「E3630」は、次世代フォトマスク向けに開発されたMVM-SEM*です。新たに開発した対物レンズと低振動プラットフォームの採用により、従来システムに比べて測定...