アドバンテストの走査型電子顕微鏡

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4 点の製品がみつかりました

株式会社アドバンテスト

WAFER MVM-SEM® 次世代ウエハ対応の多次元観察・測長SEM E3310

40人以上が見ています

最新の閲覧: 10時間前

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E3310は、1Xnmノードのプロセス開発および22nm世代以降の量産デバイス向けに開発されたウエハ用MVM-SEM*です。デュアル・アーム真空ロボットを採用した高速搬...


株式会社アドバンテスト

MASK MVM-SEM® 1Xnmノードフォトマスク対応の多次元観察・測長 SEM E3640

50人以上が見ています

最新の閲覧: 1時間前

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「E3640」は、フォトマスクの微細パターン寸法を高精度で測定でき、さらに、3D計測・3D観察が可能で従来のCD-SEMの枠組みを超えたMVM-SEM*です。マスク用SEM...


株式会社アドバンテスト

MASK MVM-SEM® Sub-10nmノードフォトマスク対応 多次元観察・測長SEM E3650

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「E3650」は、独自の電子ビーム走査技術を用いて、フォトマスクの微細パターン寸法をより高い精度と安定性で計測します。フォトマスク用SEM市場で広く支持さ...


株式会社アドバンテスト

MVM-SEM® 次世代フォトマスク対応の多次元観察・測長SEM E3630

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最新の閲覧: 1日前

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「E3630」は、次世代フォトマスク向けに開発されたMVM-SEM*です。新たに開発した対物レンズと低振動プラットフォームの採用により、従来システムに比べて測定...


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