卓上AI外観検査装置「GE-03」 (株式会社pros cons) のカタログ情報
卓上AI外観検査装置「GE-03」
製品個別カタログ
カタログ紹介
AI外観検査装置「GE-03」の紹介リーフレットです。
従来の画像処理手法では抑えることが難しかった過検出を最低限に抑え、0.1mmの微細な欠陥を高精度で検査できます。
従来の画像処理手法では抑えることが難しかった過検出を最低限に抑え、0.1mmの微細な欠陥を高精度で検査できます。
カタログについて
- カタログ名
- 卓上AI外観検査装置「GE-03」
- 取り扱い企業
- 株式会社pros cons
- 該当カテゴリ
- 外観検査装置 外観検査ソフト
- カタログタイプ
- 製品個別カタログ
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