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分析・計測機器 表面分析装置 走査型オージェ電子分光分析装置 (AES/SAM) PHI 4700 Thin Film Analyzer取扱企業
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商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 感度 | 検出器 | 電子源 | ステージ | 到達真空度 | ソフトウェア | オプション |
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PHI 4700 Thin Film Analyzer |
要見積もり | 1.6Mcps (Cu LMM) @10 kV, 10nA, △E/E:0.4% | マルチチャンネル検出器 (16チャンネル) | LaB6 | 5軸モータ制御 | 6.7×10^-8 Pa以下 |
SmartSoft™ (測定ソフトウェア Windows^®XP) PHI MultiPak™ (解析ソフトウェア Windows^®XP) |
冷却加熱ステージ、トランスファーベッセル、酸素リーク機構、他 |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。