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シリーズ
サーマルイメージングスコープ TSI取扱企業
株式会社ベテル| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 基本性能 測定対象 | 基本性能 出力データ | 基本性能 解析モード | 付属その他 | 測定環境 温度 | 測定環境測定 周波数 | 赤外カメラ 素子数 | 赤外カメラ 素子の種類 | 赤外カメラ ピクセルサイズ | 赤外カメラ 観察波長帯域 | 赤外カメラ フレームレート | 赤外カメラ 分析能 | 半導体レーザ (連続発振) 波長 | 半導体レーザ (連続発振) 最大出力 | 半導体レーザ (連続発振) 正弦波変調 | ステージ可動域 水平 (XY軸) 方向 | 電源 | 装置本体 外形寸法 | 装置本体 重量 | レーザ安全基準 | 使用環境 温度 | 使用環境 湿度 | 保管環境 温度 | 保管環境 湿度 | ご利用条件 測定対象 | ご利用条件 試料外形 | ご利用条件 試料サイズ | ご利用条件 表面処理 | ご利用条件 参照試料 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
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TSI-2 |
要見積もり |
試料の欠陥、不均質性、赤外線放射輝度、簡易温度、熱特性 |
周波数、距離、振幅、位相、輝度、画像データ |
点・領域解析、位相解析 |
温度変調ヒーター、制御・解析ソフトウェア、PC |
RT~250 (℃) |
0.1~250 (℃) |
336×256 |
VOx Microbolometer |
17 (μm) |
7.5~13.5 (μm) |
30 (Hz) |
About30 (μm) |
808 (nm) |
5 (W) |
0.1~30 (Hz) |
±15 (mm) |
AC100-240 (V) , 10-5 (A) , 50/60 (Hz) |
W552 × D602 × H657 (mm) |
76.5 (kg) |
CLASS1, IEC/EN 60825-1:2007 |
20~30 (℃) |
20~80 (％) |
0~50 (℃) |
20~80 (％) |
固体材料 (樹脂・ガラス・セラミックス・金属ほか) |
不定形でも可 |
MAX100×100×30 (mm) |
黒化処理 (炭素系材料の場合は不要) |
不要 |
