サーマルイメージングスコープ TSI
株式会社ベテル
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返答率
100.0%
この製品について
■熱でボイドとクラックを可視化
省エネ化のためにはエネルギー効率の向上が重要なテーマです。本装置は電子デバイスの消費電力との問題に着目し、デバイス内部の熱特性を可視化、相対数値化することで界面の熱拡散性の評価を可能としました。また、省エネ化へはその熱伝導性の高さからダイヤモンドやDLCが注目されていますが、それらの界面から熱を逃がす熱拡散性の評価は非常に重要です。さらに、これら物質の界面の密着性が性能を左右するとも言われています。本装置は界面の密着性を熱により評価することを目指しました。■特徴
・レーザーによる加熱機能 ・マクロ撮影光学系 (分解能約20μm) ・高性能赤外線カメラ (7.5μm～13.5μm) ・独自のノイズリダクション技術-
シリーズ
サーマルイメージングスコープ TSI
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取扱企業
株式会社ベテル
サーマルイメージングスコープ TSI 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 基本性能 測定対象 | 基本性能 出力データ | 基本性能 解析モード | 付属その他 | 測定環境 温度 | 測定環境測定 周波数 | 赤外カメラ 素子数 | 赤外カメラ 素子の種類 | 赤外カメラ ピクセルサイズ | 赤外カメラ 観察波長帯域 | 赤外カメラ フレームレート | 赤外カメラ 分析能 | 半導体レーザ (連続発振) 波長 | 半導体レーザ (連続発振) 最大出力 | 半導体レーザ (連続発振) 正弦波変調 | ステージ可動域 水平 (XY軸) 方向 | 電源 | 装置本体 外形寸法 | 装置本体 重量 | レーザ安全基準 | 使用環境 温度 | 使用環境 湿度 | 保管環境 温度 | 保管環境 湿度 | ご利用条件 測定対象 | ご利用条件 試料外形 | ご利用条件 試料サイズ | ご利用条件 表面処理 | ご利用条件 参照試料 |
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TSI-2 |
要見積もり | 試料の欠陥、不均質性、赤外線放射輝度、簡易温度、熱特性 | 周波数、距離、振幅、位相、輝度、画像データ | 点・領域解析、位相解析 | 温度変調ヒーター、制御・解析ソフトウェア、PC | RT~250 (℃) | 0.1~250 (℃) | 336×256 | VOx Microbolometer | 17 (μm) | 7.5~13.5 (μm) | 30 (Hz) | About30 (μm) | 808 (nm) | 5 (W) | 0.1~30 (Hz) | ±15 (mm) | AC100-240 (V) , 10-5 (A) , 50/60 (Hz) | W552 × D602 × H657 (mm) | 76.5 (kg) | CLASS1, IEC/EN 60825-1:2007 | 20~30 (℃) | 20~80 (％) | 0~50 (℃) | 20~80 (％) | 固体材料 (樹脂・ガラス・セラミックス・金属ほか) | 不定形でも可 | MAX100×100×30 (mm) | 黒化処理 (炭素系材料の場合は不要) | 不要 |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
