粒子物性測定機器レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置
日科機バイオス株式会社

無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

この製品について

湿式LS133320XR偏光散乱強度差測定 (PIDS) とは、小さな粒子の光散乱では、偏光に対する光散乱強度が異なるという性質を利用し、高精度に粒子径を測定するベックマン・コールターが特許を取得した測定手法で正確な測定をすることができます。

乾式LS13320XR粉体をそのまま測定 (乾式測定) する場合に問題になるサンプルの分散と測定時の濃度調整を独自のトルネードデザインで解決し、再現性のよい測定が可能になりました。

■仕様・10 nm～3,500µmの広範囲を実測
・合否を自動ハイライトすることでより効率的に運用可能
・わずかな操作で標準測定を設定できるソフトウェア

■特長・検出が困難だった微細な違いを測定
・LS13320XRは、次世代型PIDS技術により更に高精度な測定と広いダイナミックレンジを搭載した今までにない粒度分布測定装置です。
・LS13320と同様に高速、高精度な測定を行えることに加え、シンプルな操作性でより効率的に運用できます。