電子顕微鏡 (SEM・TEM) 光学像からSEM観察、元素分析まで高い操作の壁を破る卓上SEM 卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000-JCM-7000

電子顕微鏡 (SEM・TEM) 光学像からSEM観察、元素分析まで高い操作の壁を破る卓上SEM 卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000
明伸工機株式会社

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この製品について

■概要・光学顕微鏡だけではわからない形状＆組成を迅速に確認
・異物解析や品質管理を効率化する機能を各種搭載した卓上SEM

特長
■異物解析や品質管理を効率化する機能を各種搭載・色情報が得られるCCD画像と表面詳細情報が得られるSEM像が連動するZeromag機能により素早く快適な視野探しが可能
・2軸モーターステージ (X,Y) により作業効率に優れモンタージュ撮像にも対応可能
・観察中も常に元素分析結果が表示されるLive Analysis機能を搭載し、効率の良い元素分析が可能
・Live3D機能によりSEM観察しながらその場で3D像構築し凹凸・深さ情報の取得が可能

■誰でも SEM/EDS が操作できるための主な機能・一つの画面上で、光学像から走査電子顕微鏡 (SEM) 像に移行
・観察しながら元素分析
・オート機能で低倍率から高倍率まで鮮明画像
・導電性のない試料も前処理不要の低真空 (LV) モード
・詳細な形態観察ができる高真空 (HV) モード
・観察しながら3D 構築 (Live 3D) 
・コピー＆ペースト不要の自動レイアウトによる結果出力 (SMILE VIEWTM Lab) 

■異物分析組成の異なる異物を容易に発見することができ、さらに瞬時に構成する元素が分かります。レポート作成も容易なので、現場へのフィードバックを迅速におこなえます。

■品質管理SEMでは光学像で観察できない組成コントラストを観察できるので、同じ倍率でも異なる情報が得られます。低真空モード標準搭載により無処理で観察、分析ができるので、製造ラインの抜き取り検査にも使用できます。

■スクリーニング分析試料を無処理で観察、分析することができる JCM-7000 は、測定後に試料を他の分析装置へ展開することができます。

■ZeromagSEMの操作画面に最低倍率で表示される画像は、試料挿入時に自動で撮影された光学像です。光学像で視野探しをおこない、観察視野を拡大していくと、自動でSEM像に切り替わります。観察位置への移動をスムーズにおこなえるため、最小限のボタン操作でSEM像が撮影できます。

■低真空モード表面形態を鮮明にSEM観察するための高真空モードのほかに、帯電しやすい試料を前処理無しで観察できる2段階の低真空モードが装備され、試料準備も容易になりました。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
電子顕微鏡 (SEM・TEM) 光学像からSEM観察、元素分析まで高い操作の壁を破る卓上SEM 卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000

取扱企業
明伸工機株式会社

カテゴリ

観察機器

電子顕微鏡

観察機器

透過型電子顕微鏡

観察機器

走査型電子顕微鏡

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電子顕微鏡 (SEM・TEM) 光学像からSEM観察、元素分析まで高い操作の壁を破る卓上SEM 卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	写真倍率	表示倍率	画像モード	加速電圧	電子銃	試料ステージ	最大試料寸法	試料交換	画素数	自動機能	計測機能	ファイル形式	コンピューター	モニター	排気系	本体サイズ (幅) (奥行) (高さ)	本体質量
	JCM-7000	要見積もり	×10 ~ 100,000 (128 mm × 96 mm を表示サイズとして倍率を規定)	×24 ~ 202,168 (280 mm × 210 mm を表示サイズとして倍率を規定)	高真空モード：二次電子像、反射電子像 (組成、凹凸、立体、3D) 低真空モード：反射電子像 (組成、凹凸、立体、3D)	5 kV、10 kV、15 kV (3 段)	タングステンフィラメント・ウェーネルト一体型グリッド	X-Y モーター駆動ステージ X : 40 mm Y : 40 mm	80 mm 径　50 mm 高	ステージ引出し式	640 × 480､1,280 × 960、 2,560 × 1,920、5,120 × 3,840	アライメント調整、フォーカス、非点、露出調整	2 点間測定、角度測定、線幅測定	BMP、TIFF、JPEG、PNG	デスクトップ PC OS Windows® 10	24 型	完全自動、TMP: 1 台、RP: 1 台	324 mm × 586 mm × 566 mm	67 kg