半導体CV特性測定器 TECHMIZE TH511
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この製品について

■製品仕様：・10.1インチ容量性タッチスクリーン、解像度1,280*800、Linuxシステム
・デュアルCPUアーキテクチャ、LCR機能の最速テスト速度は0.56ms
・3つのテスト方法：スポットテスト、リストスキャン、グラフィックスキャン (オプション) 
・4つの寄生パラメータ (Ciss、Coss、Crss、Rg) が同じ画面に表示される
・CVカーブスキャン、Ciss-Rgカーブスキャン
・統合デザイン：LCR+VGS低電圧源+VDS高電圧源+チャンネルスイッチング+PC
・標準2チャンネルテスト、2つのデバイスまたはデュアルチップデバイスを同時にテスト可能、チャンネルは6まで拡張可能、チャンネルパラメータは個別に保存
・高速充電、コンデンサ充電時間を短縮し、高速テストを可能に
・自動遅延設定
・高バイアス：VGS:0-±40V、VDS:0-200V/1,500V/3,000V
・10ビンソーティング

■特長TH510シリーズ半導体C-V特性分析器は、TECHMIZE社が現在の半導体パワーデバイスの発展動向に基づき、半導体材料およびパワーデバイス向けに設計した分析器です。

この機器は一体化された統合設計を採用しており、ダイオード、トランジスタ、MOSFETおよびIGBTなどの半導体パワーデバイスの寄生容量、CV特性をワンタッチでテストできます。頻繁な配線切り替えやパラメータ設定は不要で、単一デバイスおよびモジュールパワーデバイスのどちらもワンタッチで迅速にテストでき、生産ラインでの迅速なテストおよび自動化統合に適しています。

CV曲線スキャン分析機能は、半導体材料およびパワーデバイスの研究開発と分析に対する実験室の要件も満たします。この機器の設計周波数は1kHz～2MHzで、VGS電圧は±40V、VDS電圧は±200V/±1,500V/±3,000Vに達し、ほとんどのパワーデバイスのテスト要件を満たします。