株式会社リガク

■薄膜評価用蛍光X線分析装置 半導体材料として重要なB、C、N、Oを含む、Be～Uまでの全元素を1台でカバー ■波長分散型蛍光X線分析 (WDX)...

• アナライザ

• X線分析装置

■300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能な波長分散型蛍光X線分析装置 (WD-XRF) GEM300に対...

• アナライザ

• X線分析装置

■上位機種に迫る高分解能・高角度精度・高PB比の多目的粉末X線回折分析装置 短時間測定が当たり前に。従来のシンチレーションカウンター...

• アナライザ

• X線分析装置

■各種薄膜の膜厚と組成を、同時に、非破壊、非接触で分析 ～200mmサイズまでのウェーハ上の各種薄膜の膜厚と組成を、同時に、非破壊、非...

• アナライザ

• X線分析装置

■微小なピークも見逃さない低ノイズも実現 DSCは、試料を加熱または冷却した時に、試料内に発生する熱エネルギーの変化を比較的微量の試...

• アナライザ

• 熱分析装置

■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (合金・純金属用) ・コンパクトな防塵・防滴仕様でどんな現場でも成分分析 ・微量元素・...

• アナライザ

• X線分析装置

■装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を搭載した多目的X線回折装置 SmartLabは、幅広い分析手法や各種材料に最適な測定テクニッ...

• アナライザ

• X線分析装置

■サブミクロン領域を観察するX線顕微鏡が誕生 リガクのnano3DXは、サブミクロンの分解能を持つX線顕微鏡です。1,200Wの高輝度X線源と疑...

• 観察機器

• X線顕微鏡

■測定から解析まで、X線分析のすべてをこなす統合ソフトウェア SmartLabStudioIIは、全自動多目的X線回折装置SmartLabによる測定、およ...

■TXRFスペクトロメーター ・超高速金属汚染マッピング ・300mmウェーハまで対応

• アナライザ

• X線分析装置

■透過X線CD計測ツール ・TSAXSは、CD測定のためのインライン小角X線散乱法です。 ・最大300mmウェーハまで対応 ・最先端のデバイスマイ...

• アナライザ

• X線分析装置

どんな試料でも置くだけ簡単3秒測定。固定はもちろん、ペースト、粉体も。粉末・ゲル・液体・固体試料の熱伝導率を簡単に測定 熱伝導率...

• メーター・計測機器

• 熱伝導率測定器

■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (RoHS/ハロゲン規制用) ・コンパクトな防塵・防滴仕様でどんな現場でも成分分析 ・高感度...

• アナライザ

• X線分析装置

■材料の融点などの反応温度や反応エネルギーを簡便測定 示差走査熱量計 (DSC) は、試料を加熱または冷却したときに試料内に発生する熱エ...

• アナライザ

• 熱分析装置

■非破壊で転位などの結晶欠陥、表面への貫通転位やエピタキシャル層の欠陥などを検出 新しい高輝度微小X線光源とそれに合わせた特殊X線...

• アナライザ

• X線分析装置

■超高速8sec.イメージング 最速8秒の撮影と約15秒の画像再構成により、超高速にCT画像を取得できます。また、長時間撮影モードによる高...

• 光源

• X線発生装置

■最大200mmウェーハのフルマッピング用X線回折 (XRD) システム TFXRD-200は、大口径ウェーハ上の薄膜の測定を目的とした専用のXRDツール...

• アナライザ

• X線分析装置

■単結晶材料の切り出し方位を、ワイヤソーその他の切断機に正確に伝えます Si、Ge、GaAs、SiC、水晶、LN、LT、サファイヤ、ルチル、蛍石...

• アナライザ

• X線分析装置

■荷重による物質の変形を温度の関数として測定 TMAは、物質の温度をプログラムに従って変化させながら、圧縮、引張、曲げ、ねじりなどの...

• アナライザ

• 熱分析装置

■高出力200WのX線管を搭載し鉱物資源分析から環境分析まで広範囲なアプリケーションに対応 コンパクトサイズでありながら高出力200WのX...

• アナライザ

• X線分析装置

■分離型TG-DTA 『設置スペースが狭くて置けない』『危険なサンプルなので、隔離したい』などのお客様の声にお応えした、天秤部本体と制...

• アナライザ

• 熱分析装置

■HUM-1 目的とする相対湿度を設定するだけで、フィードバック制御により安定した湿度が得られる水蒸気発生装置です。毎分数100mLの、比...

• ジェネレータ・発生器

• 水蒸気発生装置

■XRR、EDXRF、およびXRD計測ツール 組成および膜厚 (EDXRF) 、膜厚、密度、および粗さ (XRR) について、未パターン化およびパターン化さ...

• アナライザ

• X線分析装置

■単結晶X線回折分析のための強力で高速なシステム XtaLABSynergy-Rは、XtaLABSynergyシリーズのマイクロフォーカス回転対陰極型X線線源...

• アナライザ

• X線分析装置

1光子検出型ハイブリッドピクセル検出器を搭載した卓上型単結晶X線構造解析装置 ■最先端2次元半導体検出器を搭載 XtaLABminiIIは、光子...

• アナライザ

• X線分析装置

上面照射方式を採用し、生産管理分析に威力を発揮できる走査型蛍光X線分析装置 ■上面照射方式 試料の上方からX線を照射する方式のため...

• アナライザ

• X線分析装置

■ハイスループット、高精度分析 高速試料搬送システムと高速データ処理、強力かつ安定なX線により、走査型装置と比べて高精度かつ短時間...

• アナライザ

• X線分析装置

■2.3ミクロンHighGradeImaging invivomicroCTでは異例のexvivo専用撮影モード (超拡大機構：SuperHighResolutionMode) を搭載し、最小画...

• 光源

• X線発生装置

■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...

• アナライザ

• X線分析装置

■1,500℃までの高温測定 最高温度1,500℃の高温型示差走査熱量計であり、業界最小クラスのDSCです。セラミクスやガラス材料など高温での分...

• アナライザ

• 熱分析装置