ニデックアドバンステクノロジーの基板検査装置

高速・高精度4端子検査-ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動基板検査装置 高密度-多層ビルドアップ基板 (PCB/HDI/HLC/LED等) パターンの導通・短絡 (...

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高速・高精度4端子検査‐ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動基板検査装置 高密度-多層ビルドアップ基板 (PCB/HDI/HLC/LED等) パターンの導通・短絡 (...

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高速・高精度4端子検査‐ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動基板検査装置 大版車載基板 (ECU/ADAS/ABS/LED等) パターンの導通・短絡 (絶縁) 検査に最...

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両面アライメント機構付プリント基板全自動検査装置 BGA基板からマザー基板まであらゆるファインピッチ基板の検査をカバーするオールラウンド・ベアボードテ...

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多面付FPC用オープン/μショート/リーク検査装置 大版シート型FPC向け。高いスループットを実現。NRFEIS-5060シリーズは、ファインピッチFPCの次世代O/S検査...

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次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置 次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応 ■特徴 ・高速高精度検査が自由自在 ・超...

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次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置 超高速で基盤の反りを測定。次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応 ■特徴 ・高...

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■特徴 ・FC-CSP/大型個片基板向け高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・ダブルテーブル/シャトル式 ・ LULはご要望仕様に合わせたご提...

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■特徴 ・FC-CSP/大型個片基板向け高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・ダブルテーブル/シャトル式 ・ LULはご要望仕様に合わせたご提...

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■特徴 ・大型個片/クォーターパネル高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・多様なオートメーション要求に対応 ・LULはご要望仕様に合わ...

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■特徴 ・ハーフ/クオーターパネル向け高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・多様なオートメーション要求に対応 ・LULはご要望仕様に合...

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■特徴 ・大型HDI向け高精度検査装置 ・上下最大ポイント数64K対応 ・多面付け基板のStep&Repeat検査と大判基板の一括検査の両方に対応 ・LULはご要望仕様に合...

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■特徴 ・省スペース化対応L/UL一体型 ・高速/高精度対応モデル ・AGVシステム対応 ・LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能です ・総合アライメント精度±3.5...

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豊富なオプション群から必要な機能の追加ができる最新機能を盛り込んだフラットケーブル対応の最新テスタ ■特徴 ・高速、高精度 ・4W検査 ・スキャナカード ...

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次世代基板対応、高速・高精度3次元計測装置 ■特徴 ・深さ5μm、LineSpace2/2対応 ・透過測定法によるSR・ABFの厚さ測定 ・ガラスコア対応可能な技術力と信頼...

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次世代基板対応、高速・高精度3次元計測装置 ■特徴 ・深さ5μm、LineSpace2/2対応 ・透過測定法によるSR・ABFの厚さ測定 ・ガラスコア対応可能な技術力と信頼...

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■特徴 ・超高速・高精度検査 ・2D/3D同時測定システム ・バンプ径/ピッチ微細化対応

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■特徴 ・超高速・高精度検査 ・2D/3D同時測定システム ・バンプ径/ピッチ微細化対応

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■特徴 ・超高速・高精度検査 ・2D/3D同時測定システム ・バンプ径/ピッチ微細化対応

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■特徴 ・3D/2D/SDの同時測定を高速・高精度に実現 ・金バンプ3D検査に最適 ・多様な搬送システム ■High Accuracy 2D/3D測定精度が大きく向上 ■High Speed ...

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