パーク・システムズ・ジャパンの表面検査装置

多機能 次世代 表面検査システム SCANTEC 8000

ナガセテクノエンジニアリング株式会社

170人以上が見ています

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検出された欠陥部のマーキングが可能 超大型ワーク表面検査装置

株式会社中央電機計器製作所

200人以上が見ています

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返答時間: 24.75時間

検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置

株式会社中央電機計器製作所

220人以上が見ています

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返答時間: 24.75時間

LED-1000 装置名:インライン自動LEDパッケージ表面検査装置

株式会社ジュッツジャパン

170人以上が見ています

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返答時間: 0.94時間

LED-2000 インライン自動チップLEDパッケージ表面検査装置

株式会社ジュッツジャパン

180人以上が見ています

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返答時間: 0.94時間

エッジ検査 フレキシブル傷検査 (FFD)

コグネックス株式会社

100人以上が見ています

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返答時間: 40.97時間

工作機械 工程特化型設備 破断面検査

株式会社安永

140人以上が見ています

返答時間: 24.60時間

分子間相互作用解析装置 QCM-D qCell (最も標準的な3T社のフラグシップモデル)

株式会社日本レーザー

130人以上が見ています

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返答時間: 36.47時間

分子間相互作用解析装置 QCM-D qCellµOpto (顕微鏡搭載型QCM-D)

株式会社日本レーザー

120人以上が見ています

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返答時間: 36.47時間

分子間相互作用解析装置 QCM-D qCell T (温度コントロール機能あり)

株式会社日本レーザー

110人以上が見ています

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返答時間: 36.47時間

分子間相互作用解析装置 QCM-D qCell T eChem (電気化学QCM-D)

株式会社日本レーザー

110人以上が見ています

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返答時間: 36.47時間

機器・装置に取付け可能な 表面性状観察カメラ PC-14USS

株式会社ピコ

100人以上が見ています

返答時間: 67.54時間

検査測定装置 ベアチップ CI8000

株式会社安永

110人以上が見ています

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検査測定装置 ベアチップ CI200i

株式会社安永

140人以上が見ています

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検査測定装置 ベアチップ CI200D/CI300D

株式会社安永

120人以上が見ています

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2種類の商品があります

ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定 ウェハー表面検査装置 WM-7S

入江株式会社

50人以上が見ています

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ウェハー表面検査装置 WM-10

入江株式会社

40人以上が見ています

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測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ

株式会社中央電機計器製作所

230人以上が見ています

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検査測定装置 半導体・電子部品 LI920S/LI900W

株式会社安永

190人以上が見ています

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2種類の商品があります

ブライトライトウェハ表面検査装置 V2000

ハイソル株式会社

80人以上が見ています

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チップ部品外観 (4面) 検査装置 OVS-6410

オカノ電機株式会社

60人以上が見ています

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半導体ウェハ自動外観検査装置 CosmoFinder

三谷商事株式会社

370人以上が見ています

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チップ外観検査装置

株式会社ピクリング

100人以上が見ています

RMH搭載バラtoトレイ 外観検査装置

株式会社ヒューブレイン

250人以上が見ています

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