フライングプローブテスタ APT-1340J/APT-1400F-SL (タカヤ株式会社) のカタログ情報

フライングプローブテスタ APT-1340J/APT-1400F-SL

製品個別カタログ

カタログ紹介

業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50%アップさせるとともに、コンタクト位置精度を飛躍的に向上させました。フレキシビリティに富んだ新しい高精度・広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に多大な効力を発揮します。

【インサーキットテスタとは】
電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。
電子回路基板は、電子部品がプリント配線板(基板)に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。

この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、微少な電気信号を与えて検査することを インサーキットテスト(ICT)、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。

基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」
「実装された個々の電子部品(抵抗器・コンデンサ等)の定数」「ダイオード極性」などを検査します。

MDA(Manufacturing Defect Analyzer:製造不良解析装置)とも呼ばれます。

主な検査内容
● ハンダのショート・オープン
● パターン断線
● 部品の欠品
● 部品の定数間違い
● 極性のある部品の逆挿入
● IC・コネクタのリード浮き
● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認
● その他、簡易ファンクション検査


カタログについて


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