SCANTECH 光学トラッキング式3DスキャンシステムTRACKSCAN-Pシリーズ (APPLE TREE株式会社) のカタログ情報
SCANTECH 光学トラッキング式3DスキャンシステムTRACKSCAN-Pシリーズ
製品個別カタログ
カタログ紹介
TRACKSCAN-Pは、光学トラッキング方式の3Dスキャンシステムです。
ハンディー型3Dスキャナーと光学式トラッカーで構成され、マーカーレスで高精度3Dデータを取得できます。
本製品では以下の3つのスキャンモードを瞬時に切り替えることができて、検査や寸法測定、リバースエンジニアリングなど、三次元測定が必要なさまざまな用途に対応しています。
・最大260万点/秒の高速スキャンモード：大型の対象物でも素早くスキャン可能
・最大解像度0.020mmの高解像度スキャンモード：細かい部分や表面の質感も鮮明に再現
・ディープホールスキャンモード：深穴や穴ピッチなど通常では難しい深さや間隔の計測も可能
さらに、プローブ(T-Probe)を活用することで、ワークのエッジ、円、スロットなどの特徴を高精度で取得できます。
ハンディー型3Dスキャナーと光学式トラッカーで構成され、マーカーレスで高精度3Dデータを取得できます。
本製品では以下の3つのスキャンモードを瞬時に切り替えることができて、検査や寸法測定、リバースエンジニアリングなど、三次元測定が必要なさまざまな用途に対応しています。
・最大260万点/秒の高速スキャンモード：大型の対象物でも素早くスキャン可能
・最大解像度0.020mmの高解像度スキャンモード：細かい部分や表面の質感も鮮明に再現
・ディープホールスキャンモード：深穴や穴ピッチなど通常では難しい深さや間隔の計測も可能
さらに、プローブ(T-Probe)を活用することで、ワークのエッジ、円、スロットなどの特徴を高精度で取得できます。
カタログについて
- カタログ名
- SCANTECH 光学トラッキング式3DスキャンシステムTRACKSCAN-Pシリーズ
- 取り扱い企業
- APPLE TREE株式会社
- 該当カテゴリ
- 3D形状測定機 レーザースキャナー 3Dスキャナ
- カタログタイプ
- 製品個別カタログ
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